XRF光譜儀探測器         包含：
1. X射線探頭和前置放大器（前放）；
2. 數(shù)字脈沖處理器和多道分析器；
3. 電源和PC接口。

X-123X射線光譜儀探測器產品特性：
1. 緊湊的一體化設計；
2. 易操作；
3. 體積?。?.7 x 3.9 x 1英寸，7 x 10 x 2.5厘米）；
4. 低功耗（2.5W）；
5. 重量輕180克；
6. USB和RS232通訊支持；
7. 可封裝全系列的AMPTEK探測器。

X-123X射線光譜儀探測器應用范圍：
1. X射線熒光譜儀；
2. 執(zhí)行RoHS/WEEE標準檢測的儀器；
3. 流程控制；
4. 藝術和考古；
5. X-123產品演示。

探測器：
1. Si-Pin半導體X射線探頭；
2. 兩級熱電制冷；
3. 面積：6-25mm2；
4. 厚度：300-500µm；
5. 多層準直器。

典型性能參數(shù)：
1. 分辨率：在5.9keV能量出的半高全寬為145到230eV；
2. 適用能量范圍：1-40keV；
3. zui大計數(shù)率：可達每秒兩百萬計數(shù)。
4. 實際的性能參數(shù)取決于不同的探測器和配置，可以為不同應用進行優(yōu)化。